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描述:雙燈太陽(yáng)光模擬器,光譜不匹配性?xún)?yōu)于±5%,有效光譜范圍300nm~1800nm!!! 同時(shí)匹配AAA Class標準要求:IEC 60904-9 2007, JIS C 8912-2005, ASTM E927-05!!!
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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觸發(fā)模式 | 穩態(tài)式 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
雙燈太陽(yáng)光模擬器
為什么選擇全光譜太陽(yáng)光模擬器???
一、目前氙燈太陽(yáng)光模擬器可用光譜范圍只有300nm~1100nm,這對于硅晶體系太陽(yáng)能電池/組件等光譜響應范圍比較窄的測試沒(méi)有問(wèn)題;但是對于光譜響應范圍超過(guò)1100nm的前后結、多結、半導體化合物等和新型薄膜太陽(yáng)能電池測試,就不能實(shí)現全光譜范圍的*響應,此時(shí)測量的數據則不能準確表達太陽(yáng)能電池本征性能;采用全光譜太陽(yáng)光模擬器可有效解決這個(gè)問(wèn)題;
第二、光譜不匹配性?xún)?yōu)于±5%(高于標準值±25%),有效的避免了光譜不匹配引起的光譜失配誤差,不僅提高測試結果的準確性,而且增加了數據的可信度;
雙燈太陽(yáng)光模擬器
主要應用:
滿(mǎn)足各種太陽(yáng)能電池的測試,例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon,nc-Si,Microcrystalline Silicon,mc-Si)、半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機導電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、疊層太陽(yáng)能電池測試等;
主要特點(diǎn):
1)匹配AAA Class標準;
2)AM1.5G,范圍:300nm~1800nm;
3)光譜不匹配度(IEC 60904-9 ): <±5%,class A+ ;
4)有效照射面積內光強不均勻度(IEC 60904-9 ): <2%,class A ;
5) 光強穩定度(IEC 60904-9 ): 1%,class A ;
6)光源穩定輸出壽命:1000小時(shí);
7)有效照射面積:50mm×50mm~30mmX300mm;
8)擴展AM0光譜;
9)光強調節范圍:±30%;
實(shí)測光譜圖:
AM1.5G光譜
AM0光譜
擴展功能:
1)測試源表;
2)測試探針臺;
4)標準電池reference Cell;
5)多路控制器;
6)溫控測試臺;
7)IV測試軟件:
*基本測量功能: 完整 I-V 曲線(xiàn)測量, 完整 P-V 曲線(xiàn)測量,短路電流 Isc 測量,開(kāi)路電壓 Voc 測量, 短路電流密度 Jsc 測量,峰值功率 Pmax 測量,峰值功率電流 Imp 測量,峰值功率電壓 Vmp 測量,效率測量,填充因子 FF 測量,串聯(lián)電阻 Rs 測量,并聯(lián)電阻 Rsh 測量;
*Light光照條件下,太陽(yáng)能電池IV 和PV曲線(xiàn)測量(包含Forward正向掃描和Reverse反向掃描測試功能);
*Light光照條件或Dark無(wú)光照條件下,太陽(yáng)能電池I-V 和P-V曲線(xiàn)測量,I-t曲線(xiàn)和V-t曲線(xiàn)測量;
*Bias偏壓或Steady State穩態(tài)測量功能(太陽(yáng)能電池效率衰減測試功能);
*MPPT功率追蹤測試功能(Pmax功率點(diǎn)隨時(shí)間的變化);
*Repeatability 重復性測試功能;
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