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          什么是瞬態(tài)光電壓測試?

           更新時(shí)間:2023-12-27 點(diǎn)擊量:1096
            瞬態(tài)光電壓技術(shù),可以用來(lái)研究光生電荷分高的動(dòng)力學(xué)信息,包括光生電荷分寓過(guò)程中的漂移和擴散過(guò)程:漂移過(guò)程一般指發(fā)生在顆粒內的快速分高過(guò)程;而主廣散過(guò)程一般為長(cháng)時(shí)同范圍內顆粒間的電荷傳輸。另外,通過(guò)分析瞬態(tài)光電壓譜的形狀、時(shí)同尺度、符號、強度等方面可以得到光生電荷分離和復合的快慢、分離方向、分離模式、分離程度等一系列信息。瞬態(tài)光電壓測試系統是多功能載流子遷移率綜合分析系統的一個(gè)具有代表性的測試。
            本公司提供的瞬態(tài)光電壓測試系統整合了DC,AC和瞬態(tài)測試,用于太陽(yáng)能電池瞬態(tài)光電流譜TPC,瞬態(tài)光電壓譜TPV,光強相關(guān)性測試、變光強J-V曲線(xiàn)、線(xiàn)性增壓載流子抽取Photo-CELIV、強度調制光電流譜IMPS、強度調制光電壓譜IMVS、阻抗譜IS、電容電壓譜CV、深能級瞬態(tài)譜DLTS等進(jìn)行測量分析,全面深入的表征器件的載流子遷移率、載流子壽命和濃度、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程、摻雜和陷阱分布等性能參數,從而對太陽(yáng)能電池/OLED器件和其他有機半導體中的載流子遷移率進(jìn)行全面有效的分析和測量。